apd管性能测试分析数字源表

 
 
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品牌 普赛斯仪表
测试范围 0.3mV-300V/100pA-1A
测试精度 0.1%
工作环境 25±10℃
过期 长期有效
更新 2026-10-10 10:45
 
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武汉普赛斯仪表有限公司

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详细说明

击穿电压是指当没有输入光输出电流为10uA时对应的电压,大多在40V至60V范围,有些甚至要求高达80V。

暗电流是指当没有输入光偏置电压使用0.9倍击穿电压时的输出电流,暗流很小一般在几个nA,而数字源表可以提供和测量非常广的电流和电压;电压测试范围30uV-300V,电流测试范围1pA-1A;采用用户熟悉的图形界面,不管用户经验是否丰富,使用起来都非常简便,触屏操作;apd管性能测试分析数字源表认准生产厂家武汉普赛斯仪表,详询一八一四零六六三四七六;


数字源表简介

S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表,集电压、电流输入输出及测量等多种功能,最大输出电压达300V,最小电流分辨率10pA,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件,功率器件,传感器,有机材料与纳米材料等特性测试和分析。


产品特点

5寸800*480触摸显示屏,全图形化操作

内置强大的功能软件,加速用户完成测试,如LIV、PIV

源及测量的准确度为0.1%,分辨率5位半

四象限工作(源和肼),源及测量范围:高至300V,低至10pA

丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

支持USB存储,一键导出测试报告

支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网


S系列源表技术参数

最大输出功率:30W,4象限源或肼模式;

源限度:电压源:±30V(≤1A量程),±300V(≤100mA量程);

电流源:±1.05A(≤30V量程),±105mA(≤300V量程);

过量程: 105%量程,源和测量;

稳定负载电容:<22nF;

宽带噪声(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);

线缆保护电压:输出阻抗1KΩ,输出电压偏移<80uV;

最大采样速率:1000 S/s;

触发:支持IO触发输入及输出,触发极性可配置;

输出接口:前后面板香蕉头插座输出,同一时刻只能用前或者后面板接口;

通信口:RS-232、GPIB、以太网;

电源:AC 100~240V 50/60Hz;

工作环境:25±10℃;

尺寸:106mm高 × 255mm宽 × 425mm长;


apd管性能测试分析数字源表应用

•分立半导体器件特性测试,电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件;

•能量与效率特性测试,LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

•传感器特性测试,电阻率、霍尔效应等

•有机材料特性测试,电子墨水、印刷电子技术等

•纳米材料特性测试,石墨烯、纳米线等


关于武汉普赛斯仪表有限公司
注册年份
热销产品
公司简介

武汉普赛斯仪表有限公司是武汉普赛斯电子技术有限公司的全资子公司,一直专注于半导体的性能测试仪表的开发、生产与销售,致力于满足半导体领域从材料、晶圆到器件测试用科学仪器的国产替代需求。

基于普赛斯电子领X的光学与光电技术、微弱信号处理与抗干扰技术、高速数字信号处理、核心算法与系统集成等技术平台优势,公司自主研发了高精度台式数字源表、脉冲式源表、窄脉冲电流源、集成插卡式源表、高精度超大电流源、高精度高压电源、数据采集卡等国产化电性能测试仪表,以及mini LED测试系统、电流传感器测试系统、功率器件静态参数测试系统等。产品以其测试精度高、速度快、兼容性强、测试范围宽、可靠性高、操作简便以及快捷灵活的响应式服务等优势,广泛应用于新型半导体器件材料分析、半导体分立器件测试、集成电路测试、高校教学实训平台等应用;为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合,帮助用户构建自定义解决方案,同时满足行业对测试效率、测试精度、供应链安全以及规模化的挑战。

普赛斯仪表自主研制的国产化数字源表,可作为电压源和或电流源并同步测量电流和或电压,支持四象限工作。作为国内领先的半导体电性能测试仪表提供商,普赛斯仪表凭借长期的技术创新、精益的生产制造、严格的质量体系及国际化视野,推出的产品已被国内通信巨头和多家知名半导体企业认可和应用,是为数不多进入国际半导体测试市场供应链体系的半导体电性能测试设备厂商。未来,公司将继续以“为客户提供Z优质的产品与Z贴心的服务”为宗旨,朝着全球半导体电性能测试仪表的L跑者迈进。

更新信息

武汉普赛斯仪表有限公司是武汉普赛斯电子技术有限公司的全资子公司,一直专注于半导体的性能测试仪表的开发、生产与销售,致力于满足半导体领域从材料、晶圆到器件测试用科学仪器的国产替代需求。

基于普赛斯电子领X的光学与光电技术、微弱信号处理与抗干扰技术、高速数字信号处理、核心算法与系统集成等技术平台优势,公司自主研发了高精度台式数字源表、脉冲式源表、窄脉冲电流源、集成插卡式源表、高精度超大电流源、高精度高压电源、数据采集卡等国产化电性能测试仪表,以及mini LED测试系统、电流传感器测试系统、功率器件静态参数测试系统等。产品以其测试精度高、速度快、兼容性强、测试范围宽、可靠性高、操作简便以及快捷灵活的响应式服务等优势,广泛应用于新型半导体器件材料分析、半导体分立器件测试、集成电路测试、高校教学实训平台等应用;为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合,帮助用户构建自定义解决方案,同时满足行业对测试效率、测试精度、供应链安全以及规模化的挑战。

普赛斯仪表自主研制的国产化数字源表,可作为电压源和或电流源并同步测量电流和或电压,支持四象限工作。作为国内领先的半导体电性能测试仪表提供商,普赛斯仪表凭借长期的技术创新、精益的生产制造、严格的质量体系及国际化视野,推出的产品已被国内通信巨头和多家知名半导体企业认可和应用,是为数不多进入国际半导体测试市场供应链体系的半导体电性能测试设备厂商。未来,公司将继续以“为客户提供Z优质的产品与Z贴心的服务”为宗旨,朝着全球半导体电性能测试仪表的L跑者迈进。

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